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1. 核心特點(diǎn)
(1)長脈沖光源設(shè)計(jì)
脈沖寬度:通常在10毫秒至100毫秒秒(傳統(tǒng)閃光燈測試儀脈寬僅10ms),為慢響應(yīng)組件提供充分的光照穩(wěn)定時(shí)間。
光源類型:采用氙燈長脈沖模式,確保光照均勻且光譜接近AM1.5標(biāo)準(zhǔn)。
適用場景:針對(duì)電容效應(yīng)顯著、載流子遷移率低的組件(如薄膜、鈣鈦礦)。
(2)高精度IV曲線測量
消除瞬態(tài)誤差:延長光照時(shí)間,使組件電流電壓(IV曲線)充分穩(wěn)定,避免短脈沖導(dǎo)致的功率虛高或低估。
數(shù)據(jù)采樣率:同步高精度采集電流、電壓數(shù)據(jù),精確捕捉最大功率點(diǎn)(MPP)。
(3)適配性廣
兼容多類型組件:可測試晶硅組件,但更適用于非晶硅、疊層電池、柔性組件等對(duì)光響應(yīng)慢的材料。
低輻照度測試:支持弱光下(如200W/m²)的性能評(píng)估,模擬陰雨天氣工況。
2. 技術(shù)優(yōu)勢
精準(zhǔn)性提升:傳統(tǒng)短脈沖測試中,薄膜組件因電容效應(yīng)導(dǎo)致電流延遲,長脈寬可消除動(dòng)態(tài)誤差,功率測量誤差可控制在±0.5%以內(nèi)。
工藝優(yōu)化支持:為新型電池研發(fā)提供真實(shí)數(shù)據(jù)反饋,助力材料與結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)改進(jìn)。
質(zhì)量控制嚴(yán)格化:避免因測試誤差導(dǎo)致的良品誤判或漏檢,降低客訴風(fēng)險(xiǎn)。
文章關(guān)鍵詞: