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| 品牌: | 曜華激光 |
| 產(chǎn)品型號(hào): | YH-LED |
| 計(jì)量單位: | |
鈣鈦礦組件穩(wěn)態(tài)LED太陽(yáng)光模擬器是一種基于LED陣列光源、能夠提供持續(xù)穩(wěn)定且光譜匹配度符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)要求的太陽(yáng)光輻照，專門(mén)用于在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下精確測(cè)試鈣鈦礦太陽(yáng)能電池組件光電性能（如功率輸出、效率、I-V特性等）的關(guān)鍵設(shè)備。
卓越的光譜匹配度與穩(wěn)定性： 采用精密設(shè)計(jì)的LED陣列光源，其輸出光譜嚴(yán)格匹配國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（如IEC 60904-9）規(guī)定的AM1.5G太陽(yáng)光譜，尤其確保對(duì)鈣鈦礦材料敏感波段（如可見(jiàn)光區(qū)）的高匹配度，并能在長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試中保持光譜和光強(qiáng)的極低波動(dòng)（通常達(dá)到AAA級(jí)或更高標(biāo)準(zhǔn)），為鈣鈦礦組件提供精準(zhǔn)、可靠的模擬光照環(huán)境。
真正穩(wěn)態(tài)輸出，規(guī)避瞬態(tài)效應(yīng)影響： 區(qū)別于脈沖式光源，它能夠提供持續(xù)、穩(wěn)定（非閃爍）的光照輸出，徹底消除因光照快速變化導(dǎo)致的鈣鈦礦組件內(nèi)部離子遷移、電容充放電等瞬態(tài)效應(yīng)，從而獲得真實(shí)反映組件在持續(xù)日照條件下工作狀態(tài)的電流-電壓特性（I-V曲線）和最大功率點(diǎn)輸出（MPP）等關(guān)鍵性能參數(shù)。
高均勻光照與靈活光強(qiáng)調(diào)節(jié)： 精心設(shè)計(jì)的光學(xué)系統(tǒng)可在有效輻照面（覆蓋典型鈣鈦礦組件尺寸）上實(shí)現(xiàn)高度均勻的光強(qiáng)分布（均勻性通常優(yōu)于±2%），避免邊緣效應(yīng)導(dǎo)致的測(cè)試誤差；同時(shí)LED光源具備寬范圍、高精度的光強(qiáng)調(diào)節(jié)能力（如從低于標(biāo)準(zhǔn)1個(gè)太陽(yáng)到數(shù)倍太陽(yáng)光強(qiáng)），滿足鈣鈦礦組件在不同輻照度條件下的性能測(cè)試與衰減研究需求。
高效能、長(zhǎng)壽命與智能化控制： LED光源本身具有能耗低、發(fā)熱量相對(duì)較小、壽命超長(zhǎng)的顯著優(yōu)勢(shì)，大幅降低運(yùn)行和維護(hù)成本；設(shè)備集成先進(jìn)的控制系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)光照強(qiáng)度、光譜穩(wěn)定性、均勻性的實(shí)時(shí)監(jiān)控與自動(dòng)校準(zhǔn)，并具備溫度監(jiān)控（部分型號(hào)可選配溫控平臺(tái)）及與外部測(cè)試設(shè)備（如源表、IV測(cè)試儀）的智能聯(lián)動(dòng)，大幅提升鈣鈦礦組件測(cè)試的自動(dòng)化程度、效率和可重復(fù)性。
材料篩選與配方驗(yàn)證：精確模擬真實(shí)日照環(huán)境，測(cè)試不同鈣鈦礦材料（如純鉛、錫鉛混合、二維/三維結(jié)構(gòu)）的光電響應(yīng)特性，加速新型光活性層、傳輸層材料的開(kāi)發(fā)。
器件結(jié)構(gòu)優(yōu)化：通過(guò)穩(wěn)態(tài)光照下的電流-電壓（I-V）特性、外量子效率（EQE）等測(cè)試，評(píng)估電極設(shè)計(jì)、界面工程、封裝工藝對(duì)組件性能的影響，指導(dǎo)結(jié)構(gòu)創(chuàng)新。
持續(xù)光老化測(cè)試：提供長(zhǎng)時(shí)間（數(shù)百至數(shù)千小時(shí)）穩(wěn)定光照，結(jié)合溫濕度控制模塊，模擬戶外實(shí)際運(yùn)行條件，量化鈣鈦礦組件在光、熱應(yīng)力下的衰減率與失效機(jī)制（如離子遷移、相分離）。
加速老化研究：通過(guò)調(diào)節(jié)光強(qiáng)（如1.5倍以上太陽(yáng)光強(qiáng)）加速材料降解，快速驗(yàn)證封裝技術(shù)、鈍化策略的可靠性，縮短產(chǎn)品壽命認(rèn)證周期。
產(chǎn)線端性能標(biāo)定：在組件出廠前進(jìn)行穩(wěn)態(tài)IV測(cè)試，確保功率輸出、填充因子（FF）等參數(shù)符合標(biāo)稱值（如IEC 61215標(biāo)準(zhǔn)），避免脈沖光源因瞬態(tài)效應(yīng)導(dǎo)致的測(cè)試偏差。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試：提供符合IEC 60904-9光譜匹配度（AAA級(jí)）及均勻性要求的穩(wěn)態(tài)光照環(huán)境，支撐鈣鈦礦組件申請(qǐng)UL、TÜV等權(quán)威認(rèn)證。
公平性能比對(duì)：為學(xué)術(shù)界與產(chǎn)業(yè)界提供統(tǒng)一測(cè)試基準(zhǔn)，消除不同光源（氙燈、脈沖LED）導(dǎo)致的效率虛高問(wèn)題，促進(jìn)鈣鈦礦技術(shù)路線的客觀評(píng)估與商業(yè)化落地。
工藝一致性監(jiān)控：檢測(cè)大面積鈣鈦礦組件（如30×30 cm²）在均勻光照下的性能波動(dòng)，定位涂布、激光劃刻等工藝缺陷，提升良品率。
校準(zhǔn)周期：首次使用前及每運(yùn)行500小時(shí)（或按廠商建議）需用標(biāo)準(zhǔn)參考電池校準(zhǔn)光譜匹配度（確保符合IEC 60904-9的AAA級(jí)標(biāo)準(zhǔn)）和光強(qiáng)（1000 W/m²），避免因LED老化導(dǎo)致測(cè)試偏差。
環(huán)境干擾：校準(zhǔn)需在暗室、恒溫（25±1°C）下進(jìn)行，排除雜散光與溫度波動(dòng)影響。
強(qiáng)制散熱：鈣鈦礦組件在持續(xù)光照下易升溫（>50°C可能加速降解），必須配合溫控平臺(tái)（如水冷或半導(dǎo)體制冷），維持組件溫度在25±2°C（或測(cè)試協(xié)議指定溫度）。
實(shí)時(shí)監(jiān)控：集成溫度傳感器緊貼組件背板，數(shù)據(jù)同步記錄至測(cè)試系統(tǒng)，溫度異常時(shí)自動(dòng)降光強(qiáng)或停機(jī)。
區(qū)域匹配：輻照均勻性（通常需>±2%）僅在標(biāo)定有效區(qū)域內(nèi)成立，測(cè)試時(shí)組件必須完全覆蓋該區(qū)域，邊緣超出會(huì)導(dǎo)致效率虛高或失真。
定期測(cè)繪：每季度用多探頭輻照計(jì)掃描光斑均勻性，尤其在大尺寸組件（>20×20 cm²）測(cè)試前。
四線制連接：組件電極需采用四線制（Kelvin連接）接至源表，分離電流傳輸與電壓檢測(cè)線，消除導(dǎo)線電阻壓降誤差。
接地屏蔽：整套系統(tǒng)（模擬器、源表、組件）需共地并加電磁屏蔽，防止LED驅(qū)動(dòng)高頻噪聲干擾弱電流信號(hào)（nA級(jí)暗電流）。
LED老化預(yù)防：避免長(zhǎng)時(shí)間滿負(fù)荷運(yùn)行（如>8小時(shí)連續(xù)高光強(qiáng)），每運(yùn)行2小時(shí)建議暫停10分鐘；定期清潔LED透鏡表面灰塵（用無(wú)塵布+光譜級(jí)乙醇），防止光衰或光譜偏移。
紫外衰減監(jiān)控：若設(shè)備含紫外LED波段（300–400 nm），需每半年檢測(cè)紫外輸出強(qiáng)度（鈣鈦礦對(duì)該波段敏感），必要時(shí)更換紫外LED模塊。
組件尺寸預(yù)警：禁止測(cè)試超出設(shè)備標(biāo)定最大尺寸的組件，否則引發(fā)光學(xué)系統(tǒng)損壞或火災(zāi)風(fēng)險(xiǎn)。
眼部防護(hù)：操作時(shí)佩戴防藍(lán)光眼鏡（LED高能藍(lán)光波段占比約15%），非測(cè)試人員勿直視光源；設(shè)備運(yùn)行時(shí)外殼需完全閉合，防止光輻射泄漏。